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中科院納米所測試
發(fā)布時間：2020-05-11
樣品來源：中科院納米所
樣品名稱：IH GaN Si_GaN_E17 TAN
測試要求：形貌
1. LH GaH 樣品
掃描范圍：3.8um*3.8um
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